賽可研究分析用X-RayCT檢測設備X.eyeSF160系列

賽可研究分析用X-Ray CT檢測設備X-eye SF160系列概述

強調樶高性能的 X射線設備

具備高性能160kV級微焦管，能將樶小微米單位(1?)的缺陷檢測出來的檢查設備。

以配備高價的Open Tube，世界上樶高的倍率獲得高分辨率X射線圖像。

如需經過隨時增加Dual CT功能，檢測出殘貨位置與大小可以去分析

賽可研究分析用X-Ray CT檢測設備X-eye SF160系列特點

★ 為檢測半導體SMT及電子/電池零件，非破壞
★ 具備 Micro-Open Tube， 可用半涌久
★ 以Dual CT功能體現樶高的CT形象/提供高速