日本日立紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)U-4100

日本日立紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)U-4100概述

U-4100紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)是目前樶高DUAN的紫外分光光度計(jì)產(chǎn)品，可實(shí)現(xiàn)足以令“ZHU名日立光度計(jì)品牌”自豪的精度。該產(chǎn)品對(duì)于在實(shí)際固體樣品檢測(cè)方面需要高質(zhì)量數(shù)據(jù)的用戶，例如半導(dǎo)體開發(fā)、光學(xué)樣品和新材料領(lǐng)域的用戶而言，是樶佳的選擇。

該系統(tǒng)的陣容可滿足各種波長(zhǎng)和各種尺寸待測(cè)樣品的檢測(cè)需求，并可通過結(jié)合各種特殊的附件來(lái)滿足不同的分析需要，例如用于檢測(cè)透過率和反射率的組件，以及可以極低的噪音水平在紫外區(qū)檢測(cè)的積分球。

日本日立紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)U-4100特點(diǎn)

U-4100在檢測(cè)固定樣品方面性能十分出色，可精卻地檢測(cè)極化屬性。在光學(xué)元件的制造中，獲得精卻的偏光特性指標(biāo)十分重要。
系統(tǒng)陣容
★ 固體樣品檢測(cè)系統(tǒng)
★ 大型樣品檢測(cè)系統(tǒng)
★ 紫外區(qū)域樣品檢測(cè)系統(tǒng)
★ 液體樣品檢測(cè)系統(tǒng)
★ InGaAs系統(tǒng)
★ 可根據(jù)用戶的需求選擇不同的檢測(cè)系統(tǒng)，靈活方便。